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1985年8月，为了配合我国微型电子计算机开发和生产的需要，经国家计算机总局批准，我公司从美国MegaTest公司购买了一套CAT(计算机辅助测试)系统---Q2/62 VLSI 测试系统。该系统的核心控制部分是一台增强型PDP-11/23+小型电子计算机，测试台由3个执行不同任务的单片机控制电路单元和一部HP5370A频率计数器组成。为了便于测试程序的开发和VLSI(大规模集成电路)的批量测试，该CAT系统还配备了一台宽行高速打印机和两台全自动分选机。全套系统价值31.4万美元，是当时广东地区引进的最大型的VLSI 测试设备。
在以后的两年中，我们在这套CAT系统上开发了具有国内先进水平的INTEL8086和8088 CPU测试程序，以及电脑板卡常用的TTL 74系列集成电路和INTEL 82系列集成电路测试程序.。使用这套CAT系统，我们对INTEL8086和8088 CPU 集成电路进行了基本功能，静态参数，动态参数的测试分析，尤其是对CPU 动态参数的定量测试更是走在全国的前列。在IQC工作中 ，这套CAT系统对国外厂家提供的VLSI器件进行了严格的筛选，并为进出口部门的退换货工作提供了有效依据。 这套CAT系统在我公司微型计算机产品开发和生产中发挥了重要作用。通过使用表明，我们开发的VLSI测试程序性能良好，符合和达到INTEL 公司规定的标准和要求。
VLSI测试程序用PASCAL语言和专用的QTL语言编程，主要由测试模块，图形模块，通道诊断模块和计量模块等部分组成。
1． 测试模块 在测试模块中，按照DC参数测试，功能测试和AC参数测试的顺序和VLSI厂家产品的技术条件和标准，设置了相应的DC和AC参数测量范围和图形调用命令。在这个模块中还编制有用于PDP计算机与测试台数据处理和通讯的子程序。
2． 图形模块 在这个模块中，设置了各测试项目用的强置数据，比较数据，驱动数据和选通数据。 其中强置数据是使DUT（被测器件）处于某一种被测状态的输入型逻辑组合代码；比较数据是对比DUT（被测器件）输出状态的校验组合代码；驱动数据用于设置各管脚测试通道的三种工作状态，即数据输入，数据输出，数据输入/输出。选通数据是用于控制各管脚测试通道的数据输入/输出时序。
3． 通道诊断模块 此模块中设置有测试台所有管脚测试通道的测试命令，用于检查各管脚测试通道状态的正确性，确保测试台功能完整，正确。
4． 计量模块 此模块中编制有各管脚测试通道的计量命令。这些命令用于测量出在不同的信号频率和数据格式的状态下，从计算机数据发出到DUT（被测器件）输入端收到数据的时间间隔，并将其做为时间补偿值（OFFSET），存储在测试台的EPROM中。在测试过程中，测试程序会自动调用时间补偿值（OFFSET），以修正测试模块中设置的定时参数。
我们根据VLSI的测试程序的设计和CAT系统的使用情况，确定了测试程序编制的基本方法，并用于工作中。
一．测试流程 测试流程的编排是测试程序设计的重要步骤之一。各测试项目的安排是否合理，对 测试程序的工作质量会产生很大的影响。VLSI 测试程序的设计依据是来自器件生产厂VLSI产品技术规范 。. 技术规范中的每一种DC参数和AC参数就是一个测试项目，我们定为一个测试单元。测试流程的编排实际上就是测试单元执行顺序的安排。测试流程的基本模式：
1． DUT 的短路测试
2． DUT 的开路测试
3． 基本功能测试
4． DC参数测试
5． AC参数测试
对于较简单的SSI和MSI，功能比较简单的芯片，可将第3项和第四项对调。
二．测试图形
按图形在测试程序中的作用分为短路测试图形，DC参数测试图形，AC参数测试图形和功能测试图形。测试图形的设计在国内外已经有了许多新方法。完整地，科学地，经济地测试VLSI是取决于图形设计者的设计方法。我们选用了两种图形设计方法。
对于比较简单的逻辑电路芯片，如总线缓冲器和总线驱动器，则采用最常用的“穷举法”。这种方法使用简单，可现编现用，多用于IQC的质量检验和筛选。 对于比较复杂的逻辑控制芯片，如可编程计数器和中断控制器，一般采用“抽象执行法”。这种图形的设计方法是用DUT（被测器件）的自身指令或命令组合代码，做分步（单拍）运行，使其测量的管脚处于规定的测试状态，为 DC参数测量，AC参数测量和数据正确性检查创造先决条件。为此，测试程序员要对DUT（被测器件）指令进行分析和分解，优化指令代码，组合排序等工作。这种图形设计好后，能比较全面的检测DUT（被测器件）的功能。但这种图形设计的工作量也比较大的，增加了测试程序的开发费用。近年来，电脑生产厂为降低测试程序的开发成本，缩短开发周期，对VLSI中CPU 和 Mirco-Controller（单片机）等用的测试图形一般都要求器件厂家提供。
三．辅助分析 在VLSI测试工作中，经常要对DUT（被测器件）的参数进行不同条件下的工作范围测试，所以，在我们开发的测试程序中都增加有辅助分析功能。这个功能是通过对DUT（被测器件）的参数进行二进制扫描，在确定正常的工作范围和相关临界工作点后，通过计算机的绘制出二维或三维测试图形，以便于有关人员对DUT（被测器件）质量水平做出评测。
CAT(计算机辅助测试)技术的应用在深圳已有二十多年的历史了。随着新器件的不断出现，CAT系统不断升级，要求的测试技术水平越来越高。在新的形势下，VLSI测试工作者也在不断探索和进取，在技术创新工作中做出新的成绩。
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